 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
主たる装置 | |
形式 | |
性能等内容 | |
分析事例 | |
||||||||
| ||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
蛍光Ｘ線分析装置(XRFS) [画像あり] |
|
|
|
RIX-3000 | |
|
|
B～Ｕまでの元素分析、FP法による組成分析 | |
|
|
定量分析(セラミックス、薄膜、プラスチック）、定性分析 | |
|
| ||||||||||||||||
|
|
Ｘ線回折装置(XRD) [画像あり] |
|
|
|
ＲＡＤ－Ｃ | |
|
|
粉末法によるX線回折解析、薄膜のX線回折解析 | |
|
|
定性分析、状態分析（結晶化度、アモルファス化の確認、結晶方位） | |
|
| ||||||||||||||||
|
|
Ｘ線マイクロアナライザー(EPMA) [画像あり] |
|
|
|
EPMA-8750QH | |
|
|
1～3μmの微小域分析(～0.01％)、B～Ｕまでの元素分析及びカラーマッピング | |
|
|
局所分析、凝固偏析物の調査、 粒界分析、腐食生成物や微小異物等の分析 | |
|
| ||||||||||||||||
|
|
Ｘ線分析装置付き走査型電子顕微鏡 (SEM-EDX) [画像あり] |
|
|
|
DX4-Superscan 330 | |
|
|
最大試料ｻｲｽﾞ200mmφ、観察倍率15～20000、B～Ｕまでの元素分析(～0.1％)及びカラーマッピング | |
|
|
破面観察、局所分析、表面観察、腐食生成物や微小異物等の分析 | |
|
| ||||||||||||||||
|
|
結合誘導プラズマ発光分析装置 (ICP-AES) | |
|
|
ICPS-8100 | |
|
|
シーケンシャル測光型 、測定波長域160～750nm | |
|
|
試料液中のppmｵｰﾀﾞｰの元素分析、セラミックスや金属中の微量元素分析、油脂類中の金属成分分析、排水中の金属分析 | |
|
| ||||||||||||||||
|
|
原子吸光光度計(F-AAS/GA-AAS) | |
|
|
A-1800 & GA-3 | |
|
|
測定波長190～900nm、空気-アセチレンフレーム原子化法、カーボングラファイト加熱原子化法 | |
|
|
試料液中の元素分析(μg～mg/L)。アルカリ金属の定量分析、 セラミックス、金属、プラスチック中の微量元素分析 | |
|
| ||||||||||||||||
|
|
赤外顕微鏡付きフーリエ変換赤外分光光度計 (ＦＴ-ＩＲ) [画像あり] |
|
|
|
Ｎｅｘｕｓ 470 | |
|
|
可変角反射測定アタッチメント、一回反射全反射測定アタッチメント、拡散反射測定アタッチメント | |
|
|
有機物質(ゴム、プラスチック、オイル、グリス、接着剤、界面活性剤等）の赤外吸収スペクトル測定、微量異物分析 | |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||
|
|
|
|
|
Ｃｏｎｔｉｎμｕｍ | |
|
|
|
|
|
|
|
|||
| ||||||||||||||||
|
|
熱分析装置 (ＴＡ） | |
|
|
DSC 8230 | |
|
|
DSC（示差走査熱量計；-50℃～750℃） | |
|
|
結晶化熱、分解熱、生成熱、反応熱、凝固熱等の熱量測定 | |
|
|
|
|
|
|||||||||||||
|
|
|
|
|
TG-DTA 8120 | |
|
|
TG-DTA（熱重量-示差熱分析計；室温～1500℃） | |
|
|
ガラス転移点、軟化点、融点等の測定 | |
|
|
|
|
|
|
|||||||||||||
|
|
|
|
|
TMA 8310 | |
|
|
TMA(熱機械分析計；室温～1500℃) | |
|
|
セラミックス、金属、プラスチック等の熱膨張測定 | |
|
|
| ||||||||||||||||
|
|
高速液体ｸﾛﾏﾄｸﾞﾗﾌ (HPLC) | |
|
|
655-12 | |
|
|
検出器：紫外吸収検出器、示差屈折率検出器、電気伝導度検出器 | |
|
|
イオンクロマトグラフ(アニオン；mg /L）、分子排除クロマトグラフ | |
|
| ||||||||||||||||
|
|
ガスクロマトグラフ(GC) | |
|
|
G-3000 | |
|
|
検出器：TCD、FID 使用カラム：ガラス、金属、G-カラム アクセサリー：キュリーポイント熱分解装置(JHP-2型) | |
|
|
有機溶剤の純度分析、ポリマーの熱分解ガスクロマトグラフ | |
|
| ||||||||||||||||
|
|
走査型プローブ顕微鏡(SPM) [画像あり] |
|
|
|
Nano Scope Ⅲa | |
|
|
原子間力測定(AFM)、磁気力測定(MFM) | |
|
|
表面の粗さ測定(nmｵｰﾀﾞｰ）、磁区パターンの観察 | |
|
| ||||||||||||||||
|
|
自記分光光度計 [画像あり] |
|
|
|
U-4000 | |
|
|
測定波長240～2600nm、60φ積分球、5°正反射測定装置、45°正反射測定装置 | |
|
|
分子吸収スペクトル測定、濁度測定、反射率及び透過率測定、色彩分析 | |
|
| ||||||||||||||||
|
|
分光エリプソメーター [画像あり] |
|
|
|
VASE Series | |
|
|
測定波長250～1700nm、入射角可変θ：0°～90°、最高分解能0．005 | |
|
|
光学薄膜の屈折率測定、膜厚測定 | |
|
| ||||||||||||||||
|
|
その他の分析・測定器： 電気伝導度計、ｐＨメータ、酸化還元電位計、アッペ屈折計、ｅｔｃ. | |
|
||||||||||||
| ||||||||||||||||
